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銀漿Silver Paste高度測試儀/銀漿爬坡45度測量顯微鏡/銀漿高度測量系統(tǒng)/銀漿爬坡檢測儀/斜視測量儀
全新二代銀漿（爬膠）高度測量儀MT-F2000集多項**于一身，從外觀到性能都緊跟國際**設(shè)計風向，致力于拓展工業(yè)領(lǐng)域新格局。秉承不斷探索、不斷超越的品牌設(shè)計理念，為客戶提供完善的工業(yè)檢測解決方案。
銀漿（爬膠）高度45度檢測系統(tǒng)是半導體銀漿silver paste高度專業(yè)檢測儀器，也稱之為銀漿厚度檢測儀；在半導體芯片加工中，需要對芯片die中的晶圓wafe進行銀漿固定，這就需要對固定工藝進行檢測，已判斷銀漿的高度或厚度是否達到指定的技術(shù)指標；此系列檢測儀是此工藝專業(yè)檢測儀器，通過顯微鏡非接觸圖像識別的方式進行觀察及量測，配專業(yè)相機、軟件及固定治具；快速有效的檢測此工藝技術(shù)指標。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀主要用于半導體、led 封裝行業(yè)，上芯后銀漿爬芯的高度，銀漿溢出（Fillet Height）以及占比的測量。通過軟件軟體功能提供客制化相關(guān)檢測項目、檢測數(shù)據(jù)存儲、檢索和管理。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀，采用歐米特上等光學系統(tǒng)，具有低畸變，高分辨率，大景深，市場寬大且平坦，齊焦性好等特點，設(shè)計新穎，操作簡便。可手動切換觀察角度，觀察工作距離高達82mm，方便取放產(chǎn)品。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀，全程齊焦，圖像清晰，40-270倍連續(xù)變倍。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀擁有人性化的操作體驗，用戶在調(diào)焦和變倍過程中，可將手肘完全放在工作臺上，優(yōu)化操作手感。
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型號 |
OMT-F2000配置 |
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光學系統(tǒng) |
2D齊焦齊心定格定倍光學系統(tǒng) |
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光學放大倍數(shù) |
0.7倍-4.5倍 |
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數(shù)碼放大倍數(shù) |
40倍-270倍（23.8寸顯示器） |
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高清 圖像處理系統(tǒng) |
1200萬1/2寸彩色索尼工業(yè)芯片，高靈敏度、低噪聲SENSOR，性能強大，預(yù)覽流暢； |
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像元尺寸：3.75um*3.75um/數(shù)據(jù)位數(shù)：12bit 逐行曝光 |
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分辨率：4000*3000 |
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輸出接口 |
USB3.0數(shù)據(jù)輸出接口 |
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拍照 |
拍照（鼠標拍照存儲在U盤） |
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測量 |
全新測量系統(tǒng) |
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觀察角度 |
45度 |
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光源 |
OMT-60X長壽命可調(diào)亮度LED光源 |
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夾式可調(diào)LED冷光源，單顆射燈 |
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支架 |
8英寸載物臺，平臺面積 300*270mm，移動行程：200mmX200mm機械平臺，X、Y方向同軸調(diào)節(jié)； |
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8英寸平臺，平臺面積 525*330mm，移動行程：210mmX210mm機械平臺，X、Y方向同軸調(diào)節(jié)；含快速移動裝置（型號：MT-F2000-PRO） |
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電腦 |
主流品牌臺式電腦主機 |
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顯示器 |
23.8寸高清HDMI液晶顯示器分辨率1920*1080 |
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標尺 |
高精度型測微尺，格值0.01mm |